一种任意波形发生器幅度扫频多尺度校准方法和装置

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专利状态

一种任意波形发生器幅度扫频多尺度校准方法和装置

有效

专利申请进度

申请

2018-12-26

申请公布

2019-04-19

授权

2020-10-09

预估到期

2038-12-26

专利基础信息

申请号	CN201811603204.9	申请日	2018-12-26
申请公布号	CN109655775A	申请公布日	2019-04-19
授权公布号	CN109655775B	授权公告日	2020-10-09
分类号	G01R35/00
分类	测量；测试;
申请人名称	中电科思仪科技股份有限公司
申请人地址	山东省青岛市黄岛区香江路98号

专利法律状态

2021-03-26

专利权人的姓名或者名称、地址的变更

状态信息

专利权人的姓名或者名称、地址的变更；IPC(主分类):G01R 35/00；专利号:ZL2018116032049；变更事项:专利权人；变更前:中电科仪器仪表有限公司；变更后:中电科思仪科技股份有限公司；变更事项:地址；变更前:266555 山东省青岛市黄岛区香江路98号；变更后:266555 山东省青岛市黄岛区香江路98号
2020-10-09

授权

状态信息

授权
2019-05-14

实质审查的生效

状态信息

实质审查的生效；IPC(主分类):G01R 35/00；专利申请号:2018116032049；申请日:20181226
2019-04-19

发明专利申请公布

状态信息

公布

摘要

本发明公开了一种任意波形发生器幅度扫频多尺度校准方法和装置，能够根据误差的波动程度调整校准样点的间隔，误差曲线较平滑时校准样点间隔大，误差曲线波动较大时校准样点间隔小，以达到不同尺度的校准。该方法包括以下步骤：获取频响误差信号；对频响误差信号进行加窗分帧处理，得到若干个帧信号；计算每个帧信号的能量均值，得到频响误差信号的能量包络，并计算频响误差信号能量包络的均值；确定误差信号分段的判决阈值和校准样点间隔；对频响误差信号的校准频段进行分段处理，确定相应频段内的校准样点的间隔和个数；利用校准样点对相应频段进行校准操作。

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