一种针对多端口S参数测试装置的完全校准方法

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专利状态

一种针对多端口S参数测试装置的完全校准方法

有效

专利申请进度

申请

2018-11-12

申请公布

2019-01-22

授权

2020-08-04

预估到期

2038-11-12

专利基础信息

申请号	CN201811337369.6	申请日	2018-11-12
申请公布号	CN109254258A	申请公布日	2019-01-22
授权公布号	CN109254258B	授权公告日	2020-08-04
分类号	G01R35/00
分类	测量；测试;
申请人名称	中电科思仪科技股份有限公司
申请人地址	山东省青岛市黄岛区香江路98号

专利法律状态

2021-04-02

专利权人的姓名或者名称、地址的变更

状态信息

专利权人的姓名或者名称、地址的变更；IPC(主分类):G01R 35/00；专利号:ZL2018113373696；变更事项:专利权人；变更前:中电科仪器仪表有限公司；变更后:中电科思仪科技股份有限公司；变更事项:地址；变更前:266555 山东省青岛市黄岛区香江路98号；变更后:266555 山东省青岛市黄岛区香江路98号
2020-08-04

授权

状态信息

授权
2019-02-22

实质审查的生效

状态信息

实质审查的生效；IPC(主分类):G01R 35/00；专利申请号:2018113373696；申请日:20181112
2019-01-22

发明专利申请公布

状态信息

公布

摘要

本发明公开了一种针对多端口S参数测试装置的完全校准方法，属于校准领域。本发明方法首先设置端口使用的校准件；其次，针对使用者的设计及多端口S参数测试装置的硬件特性，进行直通方法、直通测量、校准方法等信息的提取计算，并生成校准连接、测量信息，然后利用校准测量信息计算端口的误差项，最后测量被测件并修正测量值；此方法特点是校准连接的步骤少，以n端口为例，最少可仅连接n+2个标准，且实现所有端口的系统误差计算。

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