一种提高天线方向图零深位置测试精度的方法

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专利状态

一种提高天线方向图零深位置测试精度的方法

有效

专利申请进度

申请

2021-08-11

申请公布

2021-12-10

授权

2024-03-19

预估到期

2041-08-11

专利基础信息

申请号	CN202110916124.4	申请日	2021-08-11
申请公布号	CN113777412A	申请公布日	2021-12-10
授权公布号	CN113777412B	授权公告日	2024-03-19
分类号	G01R29/10
分类	测量；测试;
申请人名称	中电科思仪科技股份有限公司
申请人地址	山东省青岛市黄岛区香江路98号

专利法律状态

2024-03-19

授权

状态信息

授权
2021-12-28

实质审查的生效

状态信息

实质审查的生效；IPC(主分类):G01R29/10；申请日:20210811
2021-12-10

公布

状态信息

公布

摘要

本发明公开了一种提高天线方向图零深位置测试精度的方法，属于天线测试技术领域，根据零深附近方向图呈现近似对称分布的特点，将广义互相关时延估计的方法应用到零深估计，提高零深位置测试精度；具体包括选取有效数据段，对数据段进行判断并处理，选取零深估计粗值点，利用广义互相关时延估计计算互功率谱，补零操作，以及进行傅里叶反变换等计算零深的位置。本发明采用补零的方法，提高零深位置的角度分辨率；通过该计算方法对线性值取倒数，提高与零深距离近的值在时延估计中所占的比重，进一步提高时延估计精度。

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