适用于微波集成电路电性能快速筛选的检测电路及方法

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专利状态

适用于微波集成电路电性能快速筛选的检测电路及方法

有效

专利申请进度

申请

2021-05-12

申请公布

2021-09-10

授权

2022-06-21

预估到期

2041-05-12

专利基础信息

申请号	CN202110514050.1	申请日	2021-05-12
申请公布号	CN113376505A	申请公布日	2021-09-10
授权公布号	CN113376505B	授权公告日	2022-06-21
分类号	G01R31/28
分类	测量；测试;
申请人名称	中电科思仪科技股份有限公司
申请人地址	山东省青岛市黄岛区香江路98号

专利法律状态

2022-06-21

授权

状态信息

授权
2021-09-10

公布

状态信息

公布

摘要

本发明公开了一种适用于微波集成电路电性能快速筛选的检测电路及方法，属于微波测试技术领域。采用本发明提供的方法，在进行微波集成电路电性能快速筛选检测时，只需要预先设置一次性将相关测控状态加载下发给各相关电路单元，根据检测需求提前设定检测结果的判断阈值并装载好同批次待测试的微波集成电路，就可以一次性同时而非分时地自动完成不少于10个微波集成电路的电性能快速筛选检测，有效解决电性能预先筛选环节缺位以及降低电性能最终检测无效工作率的瓶颈问题。本发明提供的方法简便、经济，测试及资源应用效能较高，且可根据应用需求规模进行应用扩展，通用性较强。

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