集成电路多参数测试仪的测试功能快速自检电路及方法

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专利状态

集成电路多参数测试仪的测试功能快速自检电路及方法

有效

专利申请进度

申请

2019-07-29

申请公布

2019-11-05

授权

2021-05-07

预估到期

2039-07-29

专利基础信息

申请号	CN201910688561.8	申请日	2019-07-29
申请公布号	CN110412496A	申请公布日	2019-11-05
授权公布号	CN110412496B	授权公告日	2021-05-07
分类号	G01R35/00;G01R31/28
分类	测量；测试;
申请人名称	中电科思仪科技股份有限公司
申请人地址	山东省青岛市经济技术开发区香江路98号

专利法律状态

2021-05-07

授权

状态信息

授权
2021-04-30

著录事项变更

状态信息

著录事项变更；IPC(主分类):G01R 35/00；专利申请号:2019106885618；变更事项:申请人；变更前:中电科仪器仪表有限公司；变更后:中电科思仪科技股份有限公司；变更事项:地址；变更前:266555 山东省青岛市经济技术开发区香江路98号；变更后:266555 山东省青岛市经济技术开发区香江路98号；变更事项:申请人；变更前:中国电子科技集团公司第四十一研究所；变更后:中国电子科技集团公司第四十一研究所
2019-11-29

实质审查的生效

状态信息

实质审查的生效；IPC(主分类):G01R 35/00；专利申请号:2019106885618；申请日:20190729
2019-11-05

发明专利申请公布

状态信息

公布

摘要

本公开提供了一种集成电路多参数测试仪的测试功能快速自检电路及方法，包括通道矩阵、信号分析模块和多个测试端口，通道矩阵与多个测试端口适配互联，用于选定测试端口构建相应的自检通道；信号分析模块与通道矩阵通信连接，用于根据通道矩阵构建的自检通道对信号发生与激励类功能电路进行关键特性正常性的自检；由经自检合格的信号发生与激励类的功能电路对所配置的信号接收与分析类功能电路进行关键特性正常性的测试核查；本公开无需再使用外部标准测试仪器设备就可以协同完成多路收发通道的测试功能核查，自检方法简便、经济，测试及应用效率较高，且可在支持测试规模的基础上适配不同配置仪器状态的现场快速自检核查，通用性较强。

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