一种基于FPGA的示波器参数自动测量装置及方法

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专利状态

一种基于FPGA的示波器参数自动测量装置及方法

有效

专利申请进度

申请

2020-09-15

申请公布

2020-12-11

授权

2023-04-28

预估到期

2040-09-15

专利基础信息

申请号	CN202010964663.0	申请日	2020-09-15
申请公布号	CN112067870A	申请公布日	2020-12-11
授权公布号	CN112067870B	授权公告日	2023-04-28
分类号	G01R13/02
分类	测量；测试;
申请人名称	中电科思仪科技股份有限公司
申请人地址	山东省青岛市黄岛区香江路98号

专利法律状态

2023-04-28

授权

状态信息

授权
2020-12-11

公布

状态信息

公布

摘要

本发明属于测试技术领域，涉及一种应用于数字荧光示波器参数测量的装置及方法。一种基于FPGA的示波器自动参数测量装置，主要由数据读取控制模块、参数测量模块以及数据同步模块组成；所述数据读取控制模块配置为读取DDR3内一次采样的N×8bit并行数据，并将读取的数据送入参数测量模块；所述参数测量模块配置为对输入的N路8bit并行数据进行计算分析得到测量结果，包括电压参数测量模块和时间参数测量模块；所述数据同步模块配置为生成同步信号，实现N路数据读取同步和测量结果显示同步。本发明对多路采样点数据并行比较，计算出当前屏幕显示波形的每一个周期内的参数，使测量结果更全面；所有参数并行计算，显著减少测量计算时间，提高仪器的实时性。

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