一种准光腔介电常数测试随频率变化误差修正方法

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专利状态

一种准光腔介电常数测试随频率变化误差修正方法

有效

专利申请进度

申请

2020-08-18

申请公布

2020-10-30

授权

2024-02-02

预估到期

2040-08-18

专利基础信息

申请号	CN202010833010.9	申请日	2020-08-18
申请公布号	CN111856150A	申请公布日	2020-10-30
授权公布号	CN111856150B	授权公告日	2024-02-02
分类号	G01R27/26
分类	测量；测试;
申请人名称	中电科思仪科技股份有限公司
申请人地址	山东省青岛市黄岛区香江路98号

专利法律状态

2024-02-02

授权

状态信息

授权
2020-10-30

公布

状态信息

公布

摘要

本发明公开了一种准光腔介电常数测试随频率变化误差修正方法，属于检测领域，可以解决准光腔介电常数测试随频率变化误差的问题，包括以下步骤：对准光腔中高斯波束相位分布进行分析；根据待测样品上表面，即空气与介质区域分界面处电磁场的边界条件关系，获得样品上表面实际的相位分布以及电场与磁场表达式；考虑准光腔内电场纵向场分量，同时将准光腔内电场横向场分量和纵向场分量列入计算步骤中；带入公式进行计算。

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