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专利状态
一种光扰偏器扰偏后光的偏振度测试方法
有效
专利申请进度
申请
2020-08-04
申请公布
2020-12-08
授权
2023-05-26
预估到期
2040-08-04
专利基础信息
申请号 CN202010770012.8 申请日 2020-08-04
申请公布号 CN112050943A 申请公布日 2020-12-08
授权公布号 CN112050943B 授权公告日 2023-05-26
分类号 G01J4/00
分类 测量;测试;
申请人名称 中电科思仪科技股份有限公司
申请人地址 山东省青岛市黄岛区香江路98号
专利法律状态
  • 2023-05-26
    授权
    状态信息
    授权
  • 2020-12-08
    公布
    状态信息
    公布
摘要
本发明公开了一种光扰偏器扰偏后光的偏振度测试方法,属于光学测量技术领域。现有技术使用偏振态分析仪,通过偏振度公式近似求得光扰偏器扰偏后光的偏振度,这种方法所需仪器昂贵、系统复杂。本发明所述方法包括如下步骤:使用单模光纤跳线依次连接保偏光源、偏振控制器、待测光扰偏器、检偏器和光功率计;保偏光源产生偏振态稳定的完全偏振光;利用上位机调整偏振控制器,使偏振控制器输出光偏振态为S1;将光功率计测试过程的平均时间调整为t1;利用上位机调整检偏器角度,从0°调整到360°,调整步进为2°,调整过程中实时记录光强度值,求得最大光强度Pmax和最小光强度Pmin;得出平均时间为t1、输入偏振态光为S1时待测光扰偏器扰偏后光的偏振度。