一种提高大功率半导体放大器测试安全性的方法

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专利状态

一种提高大功率半导体放大器测试安全性的方法

有效

专利申请进度

申请

2018-06-15

申请公布

2018-11-13

授权

2021-04-13

预估到期

2038-06-15

专利基础信息

申请号	CN201810617164.7	申请日	2018-06-15
申请公布号	CN108802447A	申请公布日	2018-11-13
授权公布号	CN108802447B	授权公告日	2021-04-13
分类号	G01R1/36;G01R1/28;G01R29/26
分类	测量；测试;
申请人名称	中电科思仪科技股份有限公司
申请人地址	山东省青岛市黄岛区香江路98号

专利法律状态

2021-04-13

授权

状态信息

授权
2021-04-02

著录事项变更

状态信息

著录事项变更
2018-12-07

实质审查的生效

状态信息

实质审查的生效
2018-11-13

公布

状态信息

公布

摘要

一种提高大功率半导体放大器测试安全性的方法，进行噪声功率密度测试时，包括以下步骤：步骤一：在大功率半导体放大器输入端口输入安全输入功率PIN‑safe；步骤二：检测大功率半导体放大器输出功率值POUT，若大于上限值，则大功率半导体放大器输出端口没有连接合适的带阻滤波器或没有连接带阻滤波器。在大功率半导体放大器测试过程中，既实现了性能指标的测试，又避免了烧毁矢量网络分析仪、频谱仪等贵重的测试仪器。

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