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专利状态

测量装置

有效

专利申请进度

申请

2020-09-04

授权

2021-03-19

预估到期

2030-09-04

专利基础信息

申请号	CN202021913808.6	申请日	2020-09-04
授权公布号	CN212749254U	授权公告日	2021-03-19
分类号	G01S17/42;G01S7/481;G01S17/58
分类	测量；测试;
申请人名称	深圳市迈测科技股份有限公司
申请人地址	广东省深圳市南山区桃源街道福光社区塘朗车辆段旁塘朗城广场(西区)A座3601

专利法律状态

2021-10-26

专利权质押合同登记的生效、变更及注销

状态信息

专利权质押合同登记的生效；IPC(主分类):G01S17/42；登记号:Y2021980010441；登记生效日:20211009；出质人:深圳市迈测科技股份有限公司；质权人:深圳市高新投小额贷款有限公司；实用新型名称:测量装置；申请日:20200904；授权公告日:20210319
2021-03-19

授权

状态信息

授权

摘要

本实用新型涉及一种测量装置，包括：支撑部件；发射部件，发射部件设置于支撑部件；驱动组件，设置于支撑部件，驱动组件内设有中心通孔；遮光部件，设置于驱动组件的输出端，并覆盖于中心通孔，用于遮挡测量装置外部的杂散光，遮光部件设有用于测量光线穿过的透光区域；光学组件，位于遮光部件和支撑部件之间，并设置于遮光部件，且可在驱动组件施加的回转载荷的作用下转动，光学组件用于调节由发射部件发出的发射光线，并使发射光线穿过透光区域，以及用于调节被目标物体返回的且穿过透光区域的反射光线。本申请通过遮光部件遮挡绝大部分测量装置外部的杂散光，减少进入测量装置的杂散光，降低外部杂散光对反射光线的干扰，提高测量结果准确度。

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