一种基于光学改进的无快门非均匀性校正装置

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专利状态

一种基于光学改进的无快门非均匀性校正装置

有效

专利申请进度

申请

2017-10-20

授权

2018-09-14

预估到期

2027-10-20

专利基础信息

申请号	CN201721359362.5	申请日	2017-10-20
授权公布号	CN207866372U	授权公告日	2018-09-14
分类号	G01J5/08
分类	测量；测试;
申请人名称	武汉高德红外股份有限公司
申请人地址	湖北省武汉市东湖开发区黄龙山南路6号

专利法律状态

2019-01-29

著录事项变更

状态信息

著录事项变更IPC(主分类):G01J 5/08变更前发明人:孙小敏发明人:黄立发明人:黄建忠发明人:苏伟发明人:齐哲明变更后发明人:孙小敏发明人:黄立发明人:黄建忠发明人:苏伟发明人:齐哲明发明人:江华诚
2018-09-14

授权

状态信息

授权

摘要

本实用新型公开了一种基于光学改进的无快门非均匀性校正装置。在面阵探测器热像仪光路系统中增加一个均匀面装置，均匀面装置设置在面阵探测器热像仪光路系统中一个可活动的振镜后部。本装置通过控制振镜的变化频率，实现热像仪在使用过程中完全无视频中断，而保证图像非均匀性良好。

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