一种光学信息检测方法、装置及设备

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专利状态

一种光学信息检测方法、装置及设备

有效

专利申请进度

申请

2020-11-27

申请公布

2021-04-09

授权

2023-07-04

预估到期

2040-11-27

专利基础信息

申请号	CN202011354795.8	申请日	2020-11-27
申请公布号	CN112629828A	申请公布日	2021-04-09
授权公布号	CN112629828B	授权公告日	2023-07-04
分类号	G01M11/02
分类	测量；测试;
申请人名称	奥比中光科技集团股份有限公司
申请人地址	广东省深圳市南山区粤海街道学府路63号高新区联合总部大厦12楼

专利法律状态

2023-07-04

授权

状态信息

授权
2021-04-27

实质审查的生效

状态信息

实质审查的生效；IPC(主分类):G01M11/02；申请日:20201127
2021-04-09

公布

状态信息

公布

摘要

本申请适用于光学技术领域，提供了一种光学信息检测方法，包括：获取第一相机采集的投影图案的局部散斑图案，提取所述局部散斑图案中的有效散斑及其数量；根据所述有效散斑及其数量计算所述散斑参数。本实施例中，对于散斑投影器件的投射图像规划一些用于检测的目标光学信息，目标光学信息包括散斑参数，设备确定投影的局部散斑图案，通过局部散斑图案中的有效散斑及其数量，就可以准确的计算出用于检测的散斑参数。完整、准确、可靠的通过投影的局部散斑图案检测出对应的用于检测的散斑参数，进而准确快速的确定投影器件的质量是否合格，提高产线的效率和良品率。

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