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专利状态

X射线检测系统

有效

专利申请进度

申请

2022-12-28

授权

2023-10-03

预估到期

2032-12-28

专利基础信息

申请号	CN202223532295.6	申请日	2022-12-28
授权公布号	CN219799275U	授权公告日	2023-10-03
分类号	G01N23/00;G01B21/00;G01B21/02
分类	测量；测试;
申请人名称	同方威视技术股份有限公司
申请人地址	北京市海淀区双清路清华大学同方大厦A座2层

专利法律状态

2023-10-03

授权

状态信息

授权

摘要

本实用新型公开了一种X射线检测系统，包括：检测台架、气缸组合机构、滑槽升降机构和X射线检测机构。气缸组合机构设于检测台架上，并适于在输送方向推送被测物体，以将被测物体推送至第一定位面和第二定位面；滑槽升降机构包括定位部，定位部可沿检测台架的输送方向移动，以限定出第一定位面和第二定位面，被测物体在第一定位面、第二定位面与定位部止抵；X射线检测机构适于在被测物体位于第一定位面、第二定位面时对被测物体进行检测。由此，通过滑槽升降机构与气缸组合机构的配合，可对被测物体的待测处进行精准定位，从而提高X射线检测系统的检测效果。

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