毫米波/太赫兹波成像设备及人体或物品检测方法

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专利状态

毫米波/太赫兹波成像设备及人体或物品检测方法

有效

专利申请进度

申请

2018-12-29

申请公布

2019-04-16

授权

2024-03-12

预估到期

2038-12-29

专利基础信息

申请号	CN201811654172.5	申请日	2018-12-29
申请公布号	CN109633776A	申请公布日	2019-04-16
授权公布号	CN109633776B	授权公告日	2024-03-12
分类号	G01V8/22;G01V8/00
分类	测量；测试;
申请人名称	同方威视技术股份有限公司
申请人地址	北京市海淀区双清路同方大厦A座2层

专利法律状态

2024-03-12

授权

状态信息

授权
2019-05-10

实质审查的生效

状态信息

实质审查的生效；IPC(主分类):G01V8/22；申请日:20181229
2019-04-16

公布

状态信息

公布

摘要

本公开提供一种毫米波/太赫兹波成像设备及人体或物品检测方法，包括准光学组件、探测器阵列和反射板调节装置，准光学组件用于将被检对象自发辐射或反射回来的波束反射并汇聚至探测器阵列，并包括多个适于接收并反射来自被检对象的波束的反射板，多个反射板与被检对象所在视场法向之间角度是不同的，且多个反射板与水平面之间角度是不同的；探测器阵列用于接收来自准光学组件的波束；反射板调节装置包括旋转机构，用于驱动多个反射板在水平方向旋转运动，以使得多个反射板依次对被检对象位于视场不同竖直位置部分自发辐射或反射回来的波束进行反射，从而对视场全面反射，采样密集点集中在视场中间，在视场的大部分区域，采样点分布均匀，插值方便。

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