探测装置及扫描成像设备_专利查询-品牌网

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专利状态

探测装置及扫描成像设备

有效

专利申请进度

申请

2017-10-25

申请公布

2018-03-16

授权

2024-03-01

预估到期

2037-10-25

专利基础信息

申请号	CN201711014616.4	申请日	2017-10-25
申请公布号	CN107807138A	申请公布日	2018-03-16
授权公布号	CN107807138B	授权公告日	2024-03-01
分类号	G01N23/00
分类	测量；测试;
申请人名称	同方威视技术股份有限公司
申请人地址	北京市海淀区双清路同方大厦A座2层

专利法律状态

2024-03-01

授权

状态信息

授权
2018-04-10

实质审查的生效

状态信息

实质审查的生效；IPC(主分类):G01N23/00；申请日:20171025
2018-03-16

公布

状态信息

公布

摘要

本发明涉及一种探测装置及扫描成像设备。探测装置包括：支座，具有相对设置的支承面以及弧形基面；支撑部件，设置于弧形基面，支撑部件与支座可拆卸连接，支撑部件具有朝向支座的配合面以及背向支座的定位面，配合面与弧形基面彼此形状匹配；探测器组件，设置于定位面，支撑部件设置于支座与探测器组件之间，探测器组件与支撑部件可拆卸连接，探测器组件包括多个探测器；多个探测器围绕弧形基面的轴线均匀分布。本发明实施例探测装置，包括分体结构的支座和支撑部件，能够在保证定位面满足加工精度要求的前提下，能够降低支座和支撑部件的加工制造难度，节约加工成本。

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