一种基于光谱干涉的全光纤型色散测量装置

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专利状态

一种基于光谱干涉的全光纤型色散测量装置

有效

专利申请进度

申请

2020-05-25

授权

2020-11-24

预估到期

2030-05-25

专利基础信息

申请号	CN202020899398.8	申请日	2020-05-25
授权公布号	CN212007737U	授权公告日	2020-11-24
分类号	G01M11/00
分类	测量；测试;
申请人名称	珠海光库科技股份有限公司
申请人地址	广东省珠海市高新区唐家湾镇创新三路399号

专利法律状态

2020-11-24

授权

状态信息

授权

摘要

本实用新型提供一种基于光谱干涉的全光纤型色散测量装置，包括宽谱光源、第一光纤耦合器、可调光纤延迟线、第二光纤耦合器和光谱测试仪，宽谱光源的输出端与第一光纤耦合器的第一输入端通过第一光纤连接，第一光纤耦合器的第一输出端与可调光纤延迟线的输入端通过第二光纤连接，可调光纤延迟线的输出端与第二光纤耦合器的第一输入端通过第三光纤连接，第二光纤耦合器的输出端与光谱测试仪通过第四光纤连接，全光纤型色散测量装置设置有待测样品位，待测样品位位于第一光纤耦合器的第二输出端和第二光纤耦合器的第二输入端之间。本方案不仅操作简单、测量精度高，且成本相对较低，同时全光纤结构的抗环境干扰强。

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