一种多工位测量光纤光栅的光谱测试系统

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专利状态

一种多工位测量光纤光栅的光谱测试系统

有效

专利申请进度

申请

2022-12-28

授权

2023-05-02

预估到期

2032-12-28

专利基础信息

申请号	CN202223512945.0	申请日	2022-12-28
授权公布号	CN218955920U	授权公告日	2023-05-02
分类号	G01J3/42;G01J3/28
分类	测量；测试;
申请人名称	珠海光库科技股份有限公司
申请人地址	广东省珠海市高新区唐家湾镇创新三路399号

专利法律状态

2023-05-02

授权

状态信息

授权

摘要

本实用新型提供一种多工位测量光纤光栅的光谱测试系统，包括光源、三端口环形器、多个待测光纤、三个光开关和光谱仪，待测光纤上设置有光纤光栅，光源与三端口环形器的第一端口连接，三端口环形器的第二端口与第一输入端连接，一个待测光纤连接在一个第一输出端和一个第二输入端之间，第二输出端与一个第三输入端连接，三端口环形器的第三端口与另一个第三输入端连接，第三输出端与光谱仪连接。通过光开关的不同切换组合，可以测试不同通道上的光纤光栅的透射光谱或反射光谱，一套光谱仪设备同时供给数个测试工位使用，大大降低设备投入成本，也提高设备的使用率，以及提高测试的准确性。

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