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专利状态
测温系统及利用测温系统测量测温区温度的方法
有效
专利申请进度
申请
2018-06-15
申请公布
2018-10-12
授权
2024-02-20
预估到期
2038-06-15
专利基础信息
申请号 CN201810621666.7 申请日 2018-06-15
申请公布号 CN108645530A 申请公布日 2018-10-12
授权公布号 CN108645530B 授权公告日 2024-02-20
分类号 G01K7/04;G01K1/20
分类 测量;测试;
申请人名称 芜湖美的厨卫电器制造有限公司
申请人地址 安徽省芜湖市经济技术开发区东区万春东路
专利法律状态
  • 2024-02-20
    授权
    状态信息
    授权
  • 2018-11-06
    实质审查的生效
    状态信息
    实质审查的生效;IPC(主分类):G01K7/02;申请日:20180615
  • 2018-10-12
    公布
    状态信息
    公布
摘要
本发明提供一种测温系统及利用测温系统测量测温区温度的方法,所述测温系统组成及测温方法如下:具有第一材质的测温探头的热端位于测温区内,采集电路用于采集测温探头的冷端与热端之间的热电动势;具有第二材质的测温元件,与所述第一材质的测温探头的冷端相连,用于获取所述测温探头的冷端温度;温度计算设备根据所述测温探头的冷端与热端之间的热电动势以及所述测温探头的冷端温度,计算所述测温区的温度。通过上述技术方案,可将具有第二材质的测温元件与具有第一材质的测温探头相配合使用,并结合相应的补偿算法,保证了测算测温区温度的准确性。