一种去除光照影响的目标检测方法及装置

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专利状态

一种去除光照影响的目标检测方法及装置

有效

专利申请进度

申请

2010-05-31

申请公布

2011-01-19

授权

2012-08-22

预估到期

2030-05-31

专利基础信息

申请号	CN201010195149.1	申请日	2010-05-31
申请公布号	CN101950352A	申请公布日	2011-01-19
授权公布号	CN101950352B	授权公告日	2012-08-22
分类号	G06K9/00;G06T7/00;H04N7/18
分类	计算；推算；计数;
申请人名称	东方网力科技股份有限公司
申请人地址	北京市朝阳区阜通东大街1号望京SOHO塔二C座26层

专利法律状态

2015-08-05

专利申请权、专利权的转移

状态信息

专利权的转移IPC(主分类):G06K 9/00变更事项:专利权人变更前权利人:北京智安邦科技有限公司变更后权利人:东方网力科技股份有限公司变更事项:地址变更前权利人:100048 北京市海淀区首体南路9号主语国际4号楼5层变更后权利人:100102 北京市朝阳区阜通东大街1号望京SOHO塔二C座26层登记生效日:20150716
2012-08-22

授权

状态信息

授权
2011-04-20

实质审查的生效

状态信息

实质审查的生效IPC(主分类):G06K 9/00申请日:20100531
2011-01-19

公布

状态信息

公开

摘要

本发明提供了一种去除光照影响的目标检测方法，所述目标检测方法包括以下步骤：建立背景图像；计算并输出当前帧图像和背景图像的梯度，所述梯度包括水平方向梯度和垂直方向梯度；比较所述当前帧图像和所述背景图像的梯度的方向和幅度，并据此提取并输出前景轮廓；对提取的前景轮廓进行填充以获取前景团块，并滤除噪声以输出目标。本发明还提供了一种去除光照影响的目标检测装置。与现有技术相比，本发明的目标检测方法和装置有效地解决了目标检测中由于光照影响而产生的检测目标的不准确和不可靠问题。

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