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专利状态
一种高斯计和用于测量磁场强度的微控制器及控制方法
有效
专利申请进度
申请
2016-07-22
申请公布
2018-01-30
授权
2020-04-07
预估到期
2036-07-22
专利基础信息
申请号 CN201610585200.7 申请日 2016-07-22
申请公布号 CN107643499A 申请公布日 2018-01-30
授权公布号 CN107643499B 授权公告日 2020-04-07
分类号 G01R33/07
分类 测量;测试;
申请人名称 深圳长城开发科技股份有限公司
申请人地址 广东省深圳市福田区彩田路7006号
专利法律状态
  • 2020-04-07
    授权
    状态信息
    授权
  • 2018-05-01
    实质审查的生效
    状态信息
    实质审查的生效IPC(主分类):G01R 33/07
  • 2018-01-30
    公布
    状态信息
    公开
摘要
本发明涉及一种高斯计和用于测量磁场强度的微控制器及控制方法。其中高斯计包括恒流源、霍尔感应单元、信号处理电路、微控制器和显示器,所述霍尔感应单元由所述恒流源供电,用于在磁场中基于霍尔效应感生电压信号;所述信号处理电路将所述电压信号转换成数字信号;所述微控制器用于控制所述信号处理电路采样所述电压信号,并对转换后的数字信号进行处理得到对应的磁场强度值,统计单位时间内采样的磁场强度值及出现概率,作为该磁场的磁强输出至显示器。本发明通过统计磁场强度值的出现概率来表示磁场强度,有效地提高了磁场的测量精度,且无需增加额外的硬件滤波电路或者霍尔传感器,同时简化了软件算法。