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专利状态
一种磁通量测量装置
有效
专利申请进度
申请
2021-05-10
授权
2021-12-07
预估到期
2031-05-10
专利基础信息
申请号 CN202120981502.2 申请日 2021-05-10
授权公布号 CN215067234U 授权公告日 2021-12-07
分类号 G01R33/04;G01R33/07;G01R33/12
分类 测量;测试;
申请人名称 深圳长城开发科技股份有限公司
申请人地址 广东省深圳市福田区彩田路7006号
专利法律状态
  • 2021-12-07
    授权
    状态信息
    授权
摘要
一种磁通量测量装置,所述测量装置包括基体和安装于所述基体的高斯计,所述基体包括面板和安装于所述面板的定位结构、导向结构和限位结构,所述高斯计包括霍尔探头和测量仪表;所述测量仪表固定在所述定位结构内,所述限位结构包括载物台,所述载物台设有用于容置待测磁性件的限位凹槽,所述导向结构包括导轨、可以移动的嵌设于所述导轨的滑块、以及位于所述导轨的一端的第一限位块,所述霍尔探头固定于所述滑块;当所述滑块在所述导轨上移动至与所述第一限位块抵靠的位置时,所述霍尔探头针正对所述载物台上的限位凹槽。所述测量装置具有结构简单紧凑、操作简单方便、测量精度高、制作成本低且适用对象广的优势。