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专利状态
一种继电器单板通用测试装置及测试方法
有效
专利申请进度
申请
2018-09-18
申请公布
2019-03-19
授权
2021-11-02
预估到期
2038-09-18
专利基础信息
申请号 CN201811086887.5 申请日 2018-09-18
申请公布号 CN109490763A 申请公布日 2019-03-19
授权公布号 CN109490763B 授权公告日 2021-11-02
分类号 G01R31/327
分类 测量;测试;
申请人名称 浙江众合科技股份有限公司
申请人地址 浙江省杭州市滨江区江汉路1785号双城国际4号楼17层
专利法律状态
  • 2021-11-02
    授权
    状态信息
    授权
  • 2019-04-12
    实质审查的生效
    状态信息
    实质审查的生效;IPC(主分类):G01R31/327;申请日:20180918
  • 2019-03-19
    公布
    状态信息
    公布
摘要
本发明公开了一种继电器单板通用测试装置及测试方法,包括:对外连接单元,设有与被测继电器单板连接的通用IO接口;输入输出单元,与对外连接单元连接,设有多个IO单元模块,所述IO单元模块包括电源、用于驱动被测继电器可驱动高或者低的第一驱动电路、第二驱动电路,以及用于检测被测继电器触点状态的回检电路,所述第一驱动电路连接第一输出开关,所述第二驱动电路连接第二输出开关;控制单元,用于控制输入输出单元,判断被测继电器状态;人机交互单元,用于输入被测的继电器单板类型,并根据继电器单板类型匹配继电器连接方式,选择对应的测试方法并发送至控制单元;通信单元,用于人机交互单元与控制单元之间的通讯连接。本发明可适配不同的继电器单板。