一种PCIe设备信号参数动态校正装置和方法

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专利状态

一种PCIe设备信号参数动态校正装置和方法

有效

专利申请进度

申请

2020-07-09

申请公布

2020-11-24

授权

2022-05-17

预估到期

2040-07-09

专利基础信息

申请号	CN202010655809.3	申请日	2020-07-09
申请公布号	CN111984477A	申请公布日	2020-11-24
授权公布号	CN111984477B	授权公告日	2022-05-17
分类号	G06F11/22
分类	计算；推算；计数;
申请人名称	瑞芯微电子股份有限公司
申请人地址	福建省福州市鼓楼区软件大道89号18号楼

专利法律状态

2022-05-17

授权

状态信息

授权
2020-11-24

公布

状态信息

公布

摘要

本发明提供一种PCIe设备信号参数动态校正装置和方法，装置包括：误码率配置单元，用于对TLP层错误重传率的配置；测试模板单元，提供多个测试模板供选择所需的测试发送序列；加重与预加重参数调整单元，分别针对PCIe链路的输出和输入，在PCIe协议规定的标准模式下自动对eq/deq参数进行动态调整校正；回环测试单元，用于将所述测试发送序列打上回环标记后发出；数据完整性校验单元，用于进行PCIe链路端对端的循环冗余码校验和链路循环冗余码校验，以判断PCIe链路信号是否恶化；数据比较单元，用于在测试模式下，对PCIe接口发出的测试发送序列和收到的解码后数据进行比较。本发明在芯片内部实现，直接连接对端的EP设备即可进行测试，成本低，自动进行，效率高。

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