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专利状态
一种电机加工性能指标的监测系统及方法
有效
专利申请进度
申请
2016-12-26
申请公布
2017-06-30
授权
2020-08-28
预估到期
2036-12-26
专利基础信息
申请号 CN201611218967.2 申请日 2016-12-26
申请公布号 CN106909125A 申请公布日 2017-06-30
授权公布号 CN106909125B 授权公告日 2020-08-28
分类号 G05B19/406
分类 控制;调节;
申请人名称 武汉华中数控股份有限公司
申请人地址 湖北省武汉市东湖新技术开发区庙山小区华中科技大学科技园
专利法律状态
  • 2020-08-28
    授权
    状态信息
    授权
  • 2017-07-25
    实质审查的生效
    状态信息
    实质审查的生效;IPC(主分类):G05B19/406;申请日:20161226
  • 2017-06-30
    公布
    状态信息
    公布
摘要
本发明公开了一种电机加工性能指标的监测系统及方法,该系统包括:数控装置、伺服驱动器、性能监测装置和被测伺服电机;伺服驱动器,用于接收所述数控装置的指令信号,控制伺服电机,向数控装置传输编码器反馈的实际位置数据;数控装置,用于运行标准测试G代码,获取伺服电机编码器反馈的实际位置数据;被测伺服电机运动控制过程中产生的指令位置数据与实际位置数据的差值生成跟随误差波动数据,并将跟随误差波动数据发送至性能监测装置;性能监测装置根据跟随误差波动数据评价被测伺服电机加工性能,并统计存储所有被测伺服电机的该项性能指标。该监测系统搭建简单,测量自动化,操作简易,测量时间短,测量结果准确。