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专利状态
基于深度学习的电子元件极性检测方法、系统及电子装置
有效
专利申请进度
申请
2020-04-22
申请公布
2020-09-08
授权
2023-12-01
预估到期
2040-04-22
专利基础信息
申请号 CN202010322621.7 申请日 2020-04-22
申请公布号 CN111640088A 申请公布日 2020-09-08
授权公布号 CN111640088B 授权公告日 2023-12-01
分类号 G06T7/00;G06T7/11;G06T7/136;G06T7/90;G06T5/00;G06V10/25;G06V10/764;G06V10/82;G06N3/0464;G06N3/084;G01N21/956
分类 计算;推算;计数;
申请人名称 深圳拓邦股份有限公司
申请人地址 广东省深圳市南山区粤海街道高新技术产业园清华大学研究院B区413房
专利法律状态
  • 2023-12-01
    授权
    状态信息
    授权
  • 2020-10-02
    实质审查的生效
    状态信息
    实质审查的生效;IPC(主分类):G06T7/00;申请日:20200422
  • 2020-09-08
    公布
    状态信息
    公布
摘要
本发明涉及基于深度学习的电子元件极性检测方法、系统及电子装置,包括:通过图像采集装置获取PCBA图像;采用预设方法对PCBA图像进行预处理,得电子元件图像;电子元件图像为电子元件的感兴趣区域图像;采用预设算法对电子元件图像进行处理,获得电子元件的方向信息;根据方向信息输出检测结果。本发明可自动提取特征,能适应不同大小、不同颜色、不同光照下的成像,可方便推广到不同的电子元件极性检测,可高效重复使用,有效缩短产品开发周期,开发更简单,电子元件极性检测准确率高,检测结果精准。