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专利状态
存储器测试方法、装置、电子设备及存储介质
有效
专利申请进度
申请
2021-03-12
申请公布
2021-07-23
授权
2023-07-28
预估到期
2041-03-12
专利基础信息
申请号
CN202110269905.9
申请日
2021-03-12
申请公布号
CN113160873A
申请公布日
2021-07-23
授权公布号
CN113160873B
授权公告日
2023-07-28
分类号
G11C16/34;G11C8/06;G11C29/10;G11C29/12
分类
信息存储;
申请人名称
龙芯中科技术股份有限公司
申请人地址
北京市海淀区地锦路7号院4号楼1层101
专利法律状态
2023-07-28
授权
状态信息
授权
2021-08-10
实质审查的生效
状态信息
实质审查的生效;IPC(主分类):G11C16/34;申请日:20210312
2021-07-23
公布
状态信息
公布
摘要
本发明实施例提供了一种存储器测试方法、装置、电子设备及存储介质,涉及电子设备技术领域。该方法包括:通过写端口向测试区域中的每个存储单元写入第一测试数据,从起始存储单元开始,通过写端口依次向每个存储单元写入第二测试数据,同时通过读端口对未写入第二测试数据的其他存储单元分别进行读取,得到对应的第一读取结果,若从存储单元中读取的第一读取结果与写入存储单元的第一测试数据不同,则确定存储器为故障存储器。在存储器的测试过程中,控制写端口与多个读端口同时动作,可以同时测试写端口与读端口之间是否存在干扰,以及多个读端口之间是否存在干扰,可以快速确定存储器是否为故障存储器。
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