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专利状态
基于处理器的内存参数的调试方法及系统
有效
专利申请进度
申请
2017-12-22
申请公布
2019-07-02
授权
2023-04-07
预估到期
2037-12-22
专利基础信息
申请号 CN201711409175.8 申请日 2017-12-22
申请公布号 CN109960616A 申请公布日 2019-07-02
授权公布号 CN109960616B 授权公告日 2023-04-07
分类号 G06F11/22
分类 计算;推算;计数;
申请人名称 龙芯中科技术股份有限公司
申请人地址 北京市海淀区中关村环保科技示范园龙芯产业园2号楼
专利法律状态
  • 2023-04-07
    授权
    状态信息
    授权
  • 2019-07-02
    公布
    状态信息
    公布
摘要
本发明实施例提供了一种基于处理器的内存参数的调试方法及系统,涉及计算机技术领域,该方法包括:基于处理器的内存参数的调试方法,包括:对目标板卡对应的板卡参数进行模拟分析,确定待测的内存参数,所述内存参数包括时延参数和时序参数;依据所述时延参数对所述时序参数进行测试,输出测试结果;判断测试结果中的读取数据是否与预设数据一致;若不一致,则依据所述测试结果确定需要调整的时延参数,对所述需要调整的时延参数进行调整。本发明实施例能够实现内存参数的自动调试,提高内存参数的调试效率。