硬件抽象层调试方法和装置

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专利状态

硬件抽象层调试方法和装置

有效

专利申请进度

申请

2016-07-26

申请公布

2018-02-02

授权

2020-06-02

预估到期

2036-07-26

专利基础信息

申请号	CN201610597474.8	申请日	2016-07-26
申请公布号	CN107656861A	申请公布日	2018-02-02
授权公布号	CN107656861B	授权公告日	2020-06-02
分类号	G06F11/36
分类	计算；推算；计数;
申请人名称	龙芯中科技术股份有限公司
申请人地址	北京市海淀区中关村环保科技示范园龙芯产业园2号楼

专利法律状态

2021-02-05

专利权人的姓名或者名称、地址的变更

状态信息

专利权人的姓名或者名称、地址的变更；IPC(主分类):G06F 11/36；专利号:ZL2016105974748；变更事项:专利权人；变更前:龙芯中科技术有限公司；变更后:龙芯中科技术股份有限公司；变更事项:地址；变更前:100095 北京市海淀区中关村环保科技示范园龙芯产业园2号楼；变更后:100095 北京市海淀区中关村环保科技示范园龙芯产业园2号楼
2020-06-02

授权

状态信息

授权
2018-03-02

实质审查的生效

状态信息

实质审查的生效；IPC(主分类):G06F 11/36；专利申请号:2016105974748；申请日:20160726
2018-02-02

发明专利申请公布

状态信息

公布

摘要

本发明提供一种硬件抽象层调试方法和装置，其中，该方法包括：获取HAL的资源信息，该资源信息包括至少一个结构体变量，每个结构体变量包括至少一个字段，对该资源信息中的每个结构体变量进行分析，确定出每个结构体变量中的至少一个目标字段，该目标字段是在进程生命周期内不会发生变化的不变字段，判断每个目标字段的实际值与该目标字段的初始值是否一致，在目标字段的实际值与初始值不一致时，打印出目标字段对应的日志信息以用于定位该资源信息中的出错位置。本发明的技术方案，不仅获取到HAL信息全面，而且节省了开发人员调试分析Android系统中内核与HAL兼容性问题的时间，HAL的调试效率高。

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