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专利状态
微沟槽IGBT
有效
专利申请进度
申请
2021-06-24
授权
2022-02-01
预估到期
2031-06-24
专利基础信息
申请号
CN202121414363.1
申请日
2021-06-24
授权公布号
CN215731728U
授权公告日
2022-02-01
分类号
H01L29/739;H01L21/331
分类
基本电气元件;
申请人名称
江苏宏微科技股份有限公司
申请人地址
江苏省常州市新北区华山中路18号
专利法律状态
2022-02-01
授权
状态信息
授权
摘要
本实用新型提供一种微沟槽IGBT,所述微沟槽IGBT包括:半导体衬底和IGBT元胞,IGBT元胞包括:多个真栅极单元,相邻真栅极单元之间设有数量不等的假沟槽单元和/或假栅极单元,且假沟槽单元和/或假栅极单元对称设置;相连沟槽之间中间通过注入推结形成PW导电层覆盖到沟槽底部,且在真栅极单元两侧通过注入推结在PW导电层下部形成JFET层。本实用新型将PW导电层覆盖到沟槽底部同时在真栅极单元之两侧引入JFET,使得PW局部维持原来的深度且不改变沟道长度,可以在优化IGBT静态特性的同时通过虚拟栅极降低米勒电容,增大输入电容和米勒电容的比例,进一步增强IGBT开通关断过程可控性。
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