适用于显示屏离线全检的光学量测设备及量测方法

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专利状态

适用于显示屏离线全检的光学量测设备及量测方法

有效

专利申请进度

申请

2008-05-29

申请公布

2008-10-22

授权

1970-01-01

预估到期

2028-05-29

专利基础信息

申请号	CN200810109839.3	申请日	2008-05-29
申请公布号	CN101290403A	申请公布日	2008-10-22
授权公布号	CN100568058C	授权公告日	1970-01-01
分类号	G02F1/13;G01M11/02
分类	光学;
申请人名称	华映科技（集团）股份有限公司
申请人地址	福建省福州市马尾区儒江西路6号楼1#第三、四层

专利法律状态

2018-09-18

专利申请权、专利权的转移

状态信息

专利权的转移；IPC(主分类):G02F1/13；专利号:ZL2008101098393；登记生效日:20180830；变更事项:专利权人；变更前权利人:福建华映显示科技有限公司；变更后权利人:华映科技(集团)股份有限公司；变更事项:地址；变更前权利人:350015 福建省福州市马尾区科技园区77号地；变更后权利人:350000 福建省福州市马尾区儒江西路6号楼1#第三、四层
2009-12-09

发明专利权授予

状态信息

授权
2008-12-17

实质审查的生效

状态信息

实质审查的生效
2008-10-22

发明专利申请公布

状态信息

公布

摘要

一种适用于显示屏离线全检的光学量测设备，包括依次连接的测试头、测试控制/数据处理模块，和个人电脑，所述测试控制/数据处理模块与个人电脑统一装载在可移动的小车上，所述测试头包括作为测试探头的手持部和辅助定位块，其中辅助定位块的最外端形成的平面在测试时完全贴合在显示屏的表面上，所述测试头上安装有触发器。本发明还提供一种适用于显示屏离线全检的光学量测方法，包括：模组点灯；启动待测模组的显示屏的测试画面；测试画面定位；触动手持部上的触发器；完成单片测量；完成测试结果判断记录；移动测试头，开始下一次测量。本发明的优点在于：结构简单，适用于显示屏离线生产方式的批量测试，操作方便，并且测试效率高。

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