验证固态硬盘掉电保护功能的测试方法

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专利状态

验证固态硬盘掉电保护功能的测试方法

有效

专利申请进度

申请

2018-06-22

申请公布

2018-12-18

授权

2020-11-10

预估到期

2038-06-22

专利基础信息

申请号	CN201810650913.6	申请日	2018-06-22
申请公布号	CN109030989A	申请公布日	2018-12-18
授权公布号	CN109030989B	授权公告日	2020-11-10
分类号	G01R31/00
分类	测量；测试;
申请人名称	深圳市金泰克半导体有限公司
申请人地址	广东省深圳市坪山区龙田街道长方照明工业厂区厂房B一、四层

专利法律状态

2020-11-10

授权

状态信息

授权
2019-01-11

实质审查的生效

状态信息

实质审查的生效
2018-12-18

公布

状态信息

公布

摘要

本发明提供了一种验证固态硬盘掉电保护功能的测试方法，包括获取硬件信号验证测试数据、获取系统功能验证测试数据和获取可靠性验证测试数据，并判断相应测试数据是否满足预设条件的步骤。本发明的有益效果在于：提供了一种通过多个验证测试流程快速验证固态硬盘掉电保护功能可靠性的方法，该方法具有流程简单、低时间复杂度和易于实现的优点，尤其适合当前固态硬盘测试项目比较多的测试环境。

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