用于发光器件测试的测试装置

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专利状态

用于发光器件测试的测试装置

有效

专利申请进度

申请

2022-12-14

授权

2023-06-27

预估到期

2032-12-14

专利基础信息

申请号	CN202223397179.8	申请日	2022-12-14
授权公布号	CN219265487U	授权公告日	2023-06-27
分类号	G01J1/04;G01R1/04;G01R1/02;B08B5/04
分类	测量；测试;
申请人名称	TCL科技集团股份有限公司
申请人地址	广东省惠州市仲恺高新区惠风三路17号TCL科技大厦

专利法律状态

2023-06-27

授权

状态信息

授权

摘要

本申请提供一种用于发光器件测试的测试装置。通过在检测腔中安装多孔支撑件，当待测试器件放置在多孔支撑件上时，由于多孔支撑件自身具有多个空隙，且吸气组件连通在多孔支撑件的底部；使得检测腔中的气流自上而下流进吸气组件，进而使得待测试器件的四周的气体也被向下吸走，且待测试器件表面的杂质在自身重力作用下会竖直向下掉落，其掉落方向与检测腔中气流流向一致，进而提高了吸气组件对待测试器件表面杂质的吸取效果以减少待测试器件表面的杂质数量，从而提高了测试组件的测试准确性；且还降低了杂质飘出盒体的几率，从而避免了测试人员吸入杂质，提高了测试的安全性。

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