一种基于扫描链的芯片分析方法

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专利状态

一种基于扫描链的芯片分析方法

失效

专利申请进度

申请

2017-03-07

申请公布

2017-07-28

授权

2020-12-18

预估到期

2037-03-07

专利基础信息

申请号	CN201710132264.6	申请日	2017-03-07
申请公布号	CN106991022A	申请公布日	2017-07-28
授权公布号	CN106991022B	授权公告日	2020-12-18
分类号	G06F11/22;G06F11/263
分类	计算；推算；计数;
申请人名称	记忆科技（深圳）有限公司
申请人地址	广东省深圳市南山区蛇口后海大道东角头厂房D22/F、D13/F、D23/F、D14/F、D24/F、D15/F

专利法律状态

2024-03-22

专利权的终止

状态信息

未缴年费专利权终止；IPC(主分类):G06F11/22；申请日:20170307；授权公告日:20201218
2020-12-18

授权

状态信息

授权
2017-08-22

实质审查的生效

状态信息

实质审查的生效；IPC(主分类):G06F11/22；申请日:20170307
2017-07-28

公布

状态信息

公布

摘要

本发明公开了一种基于扫描链的芯片分析方法，其特征在于将CPU中需要保存状态的普通寄存器替换为带扫描输入寄存器，当CPU出现异常时，通过JTAG输出串行扫描触发指令，启动扫描链数据保存操作，将带扫描输入寄存器的数据串行通过JTAG口输出给调试主机，调试者分析调试主机接收到的各个带扫描输入寄存器的数据，分析完成后，通过控制JTAG输出控制复位信号对CPU进行复位操作，控制CPU恢复正常工作。通过扫描链机制的方法可实现在CPU出现异常时刻快速方便读出芯片主要寄存器的状态，并配合JTAG的工具实现对出现异常的CPU进行快速分析和问题定位，可大大提升开发效率。

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