一种NAND性能测试方法及其系统

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专利状态

一种NAND性能测试方法及其系统

失效

专利申请进度

申请

2019-02-12

申请公布

2019-05-28

授权

2020-12-29

预估到期

2039-02-12

专利基础信息

申请号	CN201910111517.0	申请日	2019-02-12
申请公布号	CN109817273A	申请公布日	2019-05-28
授权公布号	CN109817273B	授权公告日	2020-12-29
分类号	G11C29/56
分类	信息存储;
申请人名称	记忆科技（深圳）有限公司
申请人地址	广东省深圳市蛇口后海大道东南工贸大厦2－5层

专利法律状态

2024-02-27

专利权的终止

状态信息

未缴年费专利权终止；IPC(主分类):G11C29/56；申请日:20190212；授权公告日:20201229
2020-12-29

授权

状态信息

授权
2019-06-21

实质审查的生效

状态信息

实质审查的生效；IPC(主分类):G11C29/56；申请日:20190212
2019-05-28

公布

状态信息

公布

摘要

本发明涉及一种NAND性能测试方法及其系统；其中，NAND性能测试方法，包括以下步骤：S1，上位机通过算法构造出满足各个模式组合的命令包；S2，将命令包发送给NFC，NFC通过描述符的设置特性指令自动完成各个模式组合的NAND Flash的配置；S3，在相同环境下，NFC通过描述符对不同配置的NAND Flash进行读写操作，并进行读写性能测试；S4，将各个配置下的性能数据反馈至上位机；S5，将性能数据自动导入excel中，并生成数据对比文件和图示。本发明通过上位机自动完成对NAND Flash各个模式组合的配置，同时也可以对各个配置下的NAND Flash性能数据进行计算，比较和展示；提高了NAND性能测试的效率，节约了人力成本，能够更好地满足需求。

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