一种电子设备的测试方法及装置

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专利状态

一种电子设备的测试方法及装置

有效

专利申请进度

申请

2019-10-31

申请公布

2020-02-14

授权

2023-04-28

预估到期

2039-10-31

专利基础信息

申请号	CN201911051742.6	申请日	2019-10-31
申请公布号	CN110795297A	申请公布日	2020-02-14
授权公布号	CN110795297B	授权公告日	2023-04-28
分类号	G06F11/22;G06F11/26
分类	计算；推算；计数;
申请人名称	杭州迪普科技股份有限公司
申请人地址	浙江省杭州市滨江区通和路68号中财大厦6楼

专利法律状态

2023-04-28

授权

状态信息

授权
2020-02-14

公布

状态信息

公布

摘要

本申请提出了一种电子设备的测试方法及装置。本申请使用公共测试项库来储存公共测试项标签和公共测试项的对应关系，在执行精简测试脚本对电子设备进行测试时，测试设备基于公共测试项标签调用公共测试项库中的公共测试项，来完成对于电子设备的共有功能的测试。一方面，由于精简测试脚本中记录公共测试项标签、而非公共测试项，所以精简测试脚本中储存的数据更少，减轻了存储压力；另一方面，当电子设备的共有功能发生变更时，与现有的更新所有测试脚本中的公共测试项相比，由于本申请只需要修改公共测试项库中与该变更功能对应的公共测试项，所以可以大大提高变更公共测试项的效率。

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