电子设备的破坏性边界值的确定方法及其系统

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专利状态

电子设备的破坏性边界值的确定方法及其系统

有效

专利申请进度

申请

2020-04-29

申请公布

2020-08-25

授权

2023-04-18

预估到期

2040-04-29

专利基础信息

申请号	CN202010358936.7	申请日	2020-04-29
申请公布号	CN111581040A	申请公布日	2020-08-25
授权公布号	CN111581040B	授权公告日	2023-04-18
分类号	G06F11/24
分类	计算；推算；计数;
申请人名称	杭州迪普科技股份有限公司
申请人地址	浙江省杭州市滨江区通和路68号中财大厦6楼

专利法律状态

2023-04-18

授权

状态信息

授权
2020-08-25

公布

状态信息

公布

摘要

本公开涉及一种电子设备的破坏性边界值的确定方法及其系统。所述方法包括：取每种电子器件的待测试参数的指导上限阈值和指导下限阈值；针对待测试参数，基于所获取的指导上限阈值和指导下限阈值，预设所述电子设备的预置上限阈值和预置下限阈值；选择所述预置上限阈值和预置下限阈值之间的起始参数值，在所述起始参数值的基础上按照预定步长逐步增加或减少测试参数，测试所述电子设备工作状态，最终获取所述电子设备的测试破坏性上边界值或测试破坏性下边界值；以及将测试破坏性上边界值和预置上限阈值的平均值确定为所述电子设备的破坏性边界值上限值以及将测试破坏性下边界值和预置下限阈值的平均值确定为所述电子设备的破坏性边界值下限值。

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