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专利状态

芯片测试装置

有效

专利申请进度

申请

2020-09-24

申请公布

2022-03-29

授权

2024-03-26

预估到期

2040-09-24

专利基础信息

申请号	CN202011013781.X	申请日	2020-09-24
申请公布号	CN114256730A	申请公布日	2022-03-29
授权公布号	CN114256730B	授权公告日	2024-03-26
分类号	H01S5/00
分类	基本电气元件;
申请人名称	华为技术有限公司
申请人地址	广东省深圳市龙岗区坂田华为总部办公楼

专利法律状态

2024-03-26

授权

状态信息

授权
2022-03-29

公布

状态信息

公布

摘要

本申请提供了一种芯片测试装置，集成驱动电源和探针卡，可以实现对高功率、窄脉宽的激光芯片的性能测试评估。该芯片测试装置包括：驱动电源；探针卡PCB，探针卡PCB与驱动电源的PCBA连接；探针正极，探针正极通过第一介质与探针卡PCB连接，探针正极的后端与驱动电源的PCBA的上表面连接；探针负极，探针负极通过第一介质与探针卡PCB连接，探针负极的后端与驱动电源的PCBA的下表面连接。

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