芯片测试机信号延迟测量方法、装置及计算机设备

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专利状态

芯片测试机信号延迟测量方法、装置及计算机设备

有效

专利申请进度

申请

2022-10-09

申请公布

2022-11-04

授权

2023-01-31

预估到期

2042-10-09

专利基础信息

申请号	CN202211225564.6	申请日	2022-10-09
申请公布号	CN115291090A	申请公布日	2022-11-04
授权公布号	CN115291090B	授权公告日	2023-01-31
分类号	G01R31/28
分类	测量；测试;
申请人名称	苏州华兴源创科技股份有限公司
申请人地址	江苏省苏州市苏州工业园区青丘巷8号

专利法律状态

2023-01-31

授权

状态信息

授权
2022-11-04

公布

状态信息

公布

摘要

本申请涉及一种芯片测试机信号延迟测量方法、装置及计算机设备。一个实施例中，通过ATE自身的Pattern测试功能对目标通道进行矢量信号测试，并通过在矢量信号上设置时序相位点，多次测试后根据测试结果计算得到信号延迟时间。这样，使用ATE自身功能，无需借助外部仪器设备，可以完成对大量通道的信号延迟时间的测量，节省了测量时间和成本。此外，还可以多次改变时序相位点后进行计算，得到的信号延迟时间误差更小，结果更精确。

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