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专利状态
一种暗室测试装置及暗室测试设备
有效
专利申请进度
申请
2022-09-30
授权
2023-03-24
预估到期
2032-09-30
专利基础信息
申请号 CN202222623250.3 申请日 2022-09-30
授权公布号 CN218726678U 授权公告日 2023-03-24
分类号 G01N21/84;G01N21/01
分类 测量;测试;
申请人名称 苏州华兴源创科技股份有限公司
申请人地址 江苏省苏州市工业园区青丘巷8号
专利法律状态
  • 2023-03-24
    授权
    状态信息
    授权
摘要
本实用新型提供一种暗室测试装置及暗室测试设备,该暗室测试装置包括基板;配置于基板上的可升降的相机;围绕相机形成第一暗室空间的连接件;以及位于相机下方位置的可独立升降的具有第二暗室空间的风琴罩;所述相机与风琴罩之间通过连接件连接;当所述相机位于检测位置时,所述风琴罩独立升降以使测试治具及位于测试治具上的待测产品处于第二暗室内,从而实现相机对位于测试治具上的待测产品的遮光检测;所述连接件被配置为当所述风琴罩独立升降时,可避免将震动传递到相机上。该暗室测试装置能够避免风琴罩升降产生震动对测试相机产生影响。