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专利状态
一种小型背散射X射线检查装置
有效
专利申请进度
申请
2009-11-17
申请公布
2010-05-12
授权
2011-08-10
预估到期
2029-11-17
专利基础信息
申请号 CN200910205968.7 申请日 2009-11-17
申请公布号 CN101706460A 申请公布日 2010-05-12
授权公布号 CN101706460B 授权公告日 2011-08-10
分类号 G01N23/203
分类 测量;测试;
申请人名称 北京中盾安民分析技术有限公司
申请人地址 北京市海淀区首都体育馆南路1号
专利法律状态
  • 2011-08-10
    授权
    状态信息
    授权
  • 2010-06-30
    实质审查的生效
    状态信息
    实质审查的生效IPC(主分类):G01N 23/203申请日:20091117
  • 2010-05-12
    公布
    状态信息
    公布
摘要
本发明公开了一种小型背散射X射线检查装置,包括:中央控制与处理单元,分别与中央控制与处理单元连接的斩波轮控制器、X射线源控制器、主计算机、射线屏蔽门控制器、系统控制键盘、扫描速度显示器、背散射信号预放器、射线警示装置、安全连锁开关以及温控模块。中央控制与处理单元包括网络模块、数字信号处理电路、系统控制电路、安全连锁逻辑电路、低压电源模块;本发明具有透射能力强、最大检测距离长、扫描速度快、图像清晰度和图像分辨率高、射线泄漏剂量率低等特点。