一种用于离子迁移谱仪的热解析进样器

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专利状态

一种用于离子迁移谱仪的热解析进样器

有效

专利申请进度

申请

2017-01-03

授权

2017-06-30

预估到期

2027-01-03

专利基础信息

申请号	CN201720001000.2	申请日	2017-01-03
授权公布号	CN206292080U	授权公告日	2017-06-30
分类号	G01N1/24;G01N1/44;G01N27/62
分类	测量；测试;
申请人名称	北京中盾安民分析技术有限公司
申请人地址	北京市海淀区首都体育馆南路1号

专利法律状态

2017-06-30

授权

状态信息

授权

摘要

本实用新型公开了一种用于离子迁移谱仪的热解析进样器，包括进样入口、热解析室、PTC加热片，所述热解析室内部有前端和后端均与外部连通的气道；所述进样入口连通于所述热解析室的前端，所述PTC加热片则紧贴于所述热解析室的外壁设置；还包括有U形光电开关，所述U形光电开关设于所述进样入口的后部，并电连接于所述PTC加热片；另外，使U形光电开关电连接于离子迁移谱仪。本实用新型采用PTC加热片提供热源，配合进样入口所设置的采样部插入判断机构，实现了可编程的程序升温模式，对待测样品直接加热，大大提高了采样效率，可对待测物的痕量残留进行灵敏而便捷的检测。

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