一种X射线双能CT成像抑制金属效应方法

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专利状态

一种X射线双能CT成像抑制金属效应方法

有效

专利申请进度

申请

2013-12-27

申请公布

2014-04-02

授权

2017-11-14

预估到期

2033-12-27

专利基础信息

申请号	CN201310741006.X	申请日	2013-12-27
申请公布号	CN103700124A	申请公布日	2014-04-02
授权公布号	CN103700124B	授权公告日	2017-11-14
分类号	G06T11/00
分类	计算；推算；计数;
申请人名称	北京中盾安民分析技术有限公司
申请人地址	北京市海淀区首体南路1号

专利法律状态

2017-11-14

授权

状态信息

授权
2014-04-30

实质审查的生效

状态信息

实质审查的生效IPC(主分类):G06T 11/00申请日:20131227
2014-04-02

公布

状态信息

公开

摘要

本发明涉及一种X射线双能CT成像抑制金属效应方法，包括：（1）、对行包进行X射线双能扫描，获得双能投影数据；（2）、确定双能投影数据中存在的金属投影区域；（3）、利用金属投影区域之外的双能投影数据进行迭代重建；（4）、获得抑制金属效应后的CT切片，根据双能成像原理，计算原子系数信息。本发明的有益效果在于：提供了一种X射线双能CT成像抑制金属效应方法，所述方法可以减少CT切片上的条状伪影，提高金属物体存在时的原子系数探测精度。

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