基于路径单元的测量轮廓偏差的样条曲线补偿方法

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专利状态

基于路径单元的测量轮廓偏差的样条曲线补偿方法

有效

专利申请进度

申请

2012-10-10

申请公布

2013-01-09

授权

2015-06-24

预估到期

2032-10-10

专利基础信息

申请号	CN201210381392.1	申请日	2012-10-10
申请公布号	CN102865847A	申请公布日	2013-01-09
授权公布号	CN102865847B	授权公告日	2015-06-24
分类号	G01B21/20
分类	测量；测试;
申请人名称	北京精雕科技集团有限公司
申请人地址	北京市门头沟区石龙工业区永安路10号

专利法律状态

2015-06-24

著录事项变更

状态信息

著录事项变更；IPC(主分类):G01B21/20；变更事项:申请人；变更前:北京精雕科技有限公司；变更后:北京精雕科技集团有限公司；变更事项:地址；变更前:102308 北京市门头沟区石龙工业区永安路10号；变更后:102308 北京市门头沟区石龙工业区永安路10号
2015-06-24

授权

状态信息

授权
2013-02-20

实质审查的生效

状态信息

实质审查的生效；IPC(主分类):G01B21/20；申请日:20121010
2013-01-09

公布

状态信息

公布

摘要

本发明属于数控加工技术领域，特别涉及一种基于路径单元的测量轮廓偏差的样条曲线补偿方法。包括：选定轮廓测量点逐一进行测量，并计算各测量点测量数据与基准轮廓数据的偏差；将计算出的各点偏差数据映射到坐标系中，采用样条曲线将各偏差数据点连接起来；从样条曲线上获取每个加工点的偏差值；将偏差值补偿到对应的路径点中。本发明以路径单元为对象，采用样条误差补偿的方式，有效避免了线性方法造成的不光滑路径拐点，补偿路径更加光顺，满足了高精高速加工要求，同时获得更佳的表面效果，可以完成对较大变形量工件的路径补偿；并且简单易用，编程效率高，有效降低了生产成本。

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