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专利状态
一种双分辨率增量式位置测量装置
有效
专利申请进度
申请
2018-12-10
授权
2019-07-26
预估到期
2028-12-10
专利基础信息
申请号 CN201822062539.6 申请日 2018-12-10
授权公布号 CN209166464U 授权公告日 2019-07-26
分类号 G01D5/245
分类 测量;测试;
申请人名称 北京精雕科技集团有限公司
申请人地址 北京市门头沟区石龙工业区永安路10号
专利法律状态
  • 2019-07-26
    授权
    状态信息
    授权
摘要
本实用新型属于测量技术领域,特别涉及一种双分辨率增量式位置测量装置。由测量基准单元、读数单元及信号处理单元组成,测量基准单元包含两个增量式码道,并且该两个增量式码道的刻线数量呈倍数关系;读数单元包含两个传感模块,可分别读取两个增量式码道的位置信息,并将位置信息转换成对应的电学信号,产生两路原始正余弦信号;信号处理单元对读数单元输入的电学信号进行处理,并输出两种不同分辨率的位置数据或标准正余弦信号。本实用新型能够产生高低两种分辨率的位置数据,既能满足高速低分辨率测量要求,又能实现高精度高分辨率低速测量,无需更换测量装置即可实现对两种不同工况的测量,测量成本低、效率高。