一种用于电子元器件的参数测试系统以及测试方法

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专利状态

一种用于电子元器件的参数测试系统以及测试方法

有效

专利申请进度

申请

2016-02-16

申请公布

2016-06-29

授权

2019-10-18

预估到期

2036-02-16

专利基础信息

申请号	CN201610086886.5	申请日	2016-02-16
申请公布号	CN105717393A	申请公布日	2016-06-29
授权公布号	CN105717393B	授权公告日	2019-10-18
分类号	G01R31/00
分类	测量；测试;
申请人名称	常州同惠电子股份有限公司
申请人地址	江苏省常州市新北区天山路3号

专利法律状态

2019-10-18

授权

状态信息

授权
2016-07-27

实质审查的生效

状态信息

实质审查的生效IPC(主分类):G01R 31/00申请日:20160216
2016-06-29

公布

状态信息

公开

摘要

本发明属于电子测量技术领域，特别设计一种用于对电子元器件参数进行测试的测试系统和测试方法。一种用于电子元器件的参数测试系统，其特征在于：包括控制电路，用于对各个模块进行控制和进行数据的计算分析；控制电路连接有第一交直流产生功放电路，用于提供交直流测试信号；第一交直流产生功放电路与第一测试端连接，第一测试端与被测电子元器件的一端连接，还包括与控制电路连接的第二交直流产生功放电路，第二交直流产生功放电路与可调电阻单元连接，可调电阻单元连接有第四测试端，第四测试端与被测电子元器件的另一端连接，第三测试端亦与被测电子元器件的另一端连接，第三测试端连接有信号转换电路连接，信号转换电路与控制电路连接。

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