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专利状态
一种寻找极优校准点的算法
有效
专利申请进度
申请
2018-04-28
申请公布
2018-11-23
授权
2021-05-25
预估到期
2038-04-28
专利基础信息
申请号 CN201810396374.8 申请日 2018-04-28
申请公布号 CN108871406A 申请公布日 2018-11-23
授权公布号 CN108871406B 授权公告日 2021-05-25
分类号 G01D18/00
分类 测量;测试;
申请人名称 常州同惠电子股份有限公司
申请人地址 江苏省常州市新北区天山路3号
专利法律状态
  • 2021-05-25
    授权
    状态信息
    授权
  • 2019-09-03
    实质审查的生效
    状态信息
    实质审查的生效;IPC(主分类):G01D18/00;申请日:20180428
  • 2018-11-23
    公布
    状态信息
    公布
摘要
本发明涉及一种寻找极优校准点的算法,包括以下步骤:1)获取一组需要校准的测试数据,确定曲线拟合方式;2)随机选取一批校准点;3)将好的校准点随机互换;4)从所有点中适当再选取几个点更替;5)对每组校准点进行曲线拟合,计算出Q值;然后对Q值使用评估函数计算出评分;6)组合评估函数值,用掷骰子的方式选取优良一批校准点进入下一轮选取,并且在此轮中选取最优秀的一组校准点记录。7)重复步骤3)至步骤6);8)重复多次后寻找一个最好的校准点组。本发明以牛顿插值和三次样条插值为例,在大量测量点中寻找极优的校准点,用较低的复杂度达到在合理误差范围内的校准效果,可以用在阻抗测量领域,非常适用于日常的生产。