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专利状态

光源试验方法及其装置

有效

专利申请进度

申请

2009-11-19

申请公布

2010-08-11

授权

2013-09-11

预估到期

2029-11-19

专利基础信息

申请号	CN200910154281.5	申请日	2009-11-19
申请公布号	CN101799357A	申请公布日	2010-08-11
授权公布号	CN101799357B	授权公告日	2013-09-11
分类号	G01M11/02;G01J1/00
分类	测量；测试;
申请人名称	杭州远方光电信息股份有限公司
申请人地址	浙江省杭州市滨江区滨康路669号

专利法律状态

2013-09-11

授权

状态信息

授权
2010-09-29

实质审查的生效

状态信息

实质审查的生效IPC(主分类):G01M 11/02申请日:20091119
2010-08-11

公布

状态信息

公布

摘要

本发明公开了一种光源试验方法，在没有外来杂散光或外来杂散光较小的环境里试验两个或两个以上被测光源，取样装置能接收每一个被测光源发射光，并将光信号送至测量仪表；可程控供电电源控制点亮或熄灭各个被测光源，测量仪表和可程控供电电源通过程控联动，可按照一定的时序工作，直接或通过计算得到每个被测光源在一定的条件和/或一定时间下的光学参数。对应的试验装置中用试验腔实现低杂散光环境，两个或两个以上被测光源设置在试验腔内，试验腔内还设有能接收来自每一个被测光源发射光的取样装置。本发明中最少用一个光测量取样装置，能实现多个光源光学参数的测量，在不影响精度的前提下，测量成本大幅降低，且操作简单方便。

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