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专利状态
一种激光投影散斑测量系统
有效
专利申请进度
申请
2017-12-27
授权
2018-08-07
预估到期
2027-12-27
专利基础信息
申请号 CN201721853752.8 申请日 2017-12-27
授权公布号 CN207703459U 授权公告日 2018-08-07
分类号 G01M11/02
分类 测量;测试;
申请人名称 杭州远方光电信息股份有限公司
申请人地址 浙江省杭州市滨江区滨康路669号1号楼
专利法律状态
  • 2018-08-07
    授权
    状态信息
    授权
摘要
本实用新型公开了一种激光投影散斑测量系统,包括内部设有光源模块和成像测量装置的箱体,且所述光源模块和成像测量装置分别通过可对光源模块和成像测量装置的位置角度进行调节的光源支撑机构和探测器支撑机构设置在箱体内;光源模块由激光光源和非相干光源组成。在测试中,所述光源模块或者被测激光发出的光投射至投影屏上形成光斑,进一步光斑图像被成像至成像测量装置的探测面上实现测量;与传统设备相比,本装置创新性地在箱体内集成了激光光源、非相干光源和成像测量装置,并可以通过对应的支撑机构进行位置角度对准,实现了校准和测试功能于一体,不仅保证了散斑测量的准确度,而且使测量更加便捷、适用于实验室以及现场测量。