一种快速光谱仪及其测量方法

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专利状态

一种快速光谱仪及其测量方法

有效

专利申请进度

申请

2007-04-17

申请公布

2008-10-22

授权

2011-03-30

预估到期

2027-04-17

专利基础信息

申请号	CN200710068109.9	申请日	2007-04-17
申请公布号	CN101290246A	申请公布日	2008-10-22
授权公布号	CN101290246B	授权公告日	2011-03-30
分类号	G01J3/30
分类	测量；测试;
申请人名称	杭州远方光电信息股份有限公司
申请人地址	浙江省杭州市滨江区滨康路669号

专利法律状态

2011-03-30

授权

状态信息

授权
2010-05-05

实质审查的生效

状态信息

实质审查的生效IPC(主分类):G01J 3/30申请日:20070417
2008-10-22

公布

状态信息

公布

摘要

本发明涉及一种快速光谱仪及其测量方法，包括一个用于测量待测光源光谱功率分布的快速光谱解析系统，在快速光谱解析系统上连接有用于采集光信号并将其传送至快速光谱解析系统的光信号采集装置，所述的快速光谱解析系统与微控制器电连接，其特征在于，它还包括一个用于测量待测光源光度量或辐射度量的参考探头，该参考探头通过一个可将模拟信号转换为数字信号的信号转换电路与上述的微控制器电连接。本发明利用参考探头实现大跨度动态范围内光度量或辐射度量的线性测量，并且利用分光法的测量结果，将探头的测量结果校正为精确值。在电脑中存储有各种已知的标准值，以便于在校正时调用，对测量值进行校正，因此，能够有效地提高测量精度。

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