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专利状态
一种回复反射测量装置
有效
专利申请进度
申请
2014-11-24
授权
2015-03-18
预估到期
2024-11-24
专利基础信息
申请号 CN201420711898.9 申请日 2014-11-24
授权公布号 CN204214774U 授权公告日 2015-03-18
分类号 G01N21/55
分类 测量;测试;
申请人名称 杭州远方光电信息股份有限公司
申请人地址 浙江省杭州市滨江区滨康路669号
专利法律状态
  • 2015-03-18
    授权
    状态信息
    授权
摘要
本实用新型公开了一种回复反射测量装置,采用一个或者以上包括光阑和带孔反射镜的采样装置,以及与采样装置数量相对应的一个或者以上测量装置,一次测量即可同时实现了多个不同观测角下回复反射特性的测量,通过灵活选择光阑和带孔反射镜的尺寸,可适用于各种观测角且测量环带大小的准确可调;无需其他中间装置,实现的环带光信号无缺失,提高测量准确度;同时还可灵活配置各种滤色片、监测装置等,实现多样化的测量功能,具有测量速度快、准确度高、体积小、适用范围广、功能强大和设计一体化等特点,可广泛应用于实验室、工业产线以及现场快速测量等各种场合。